车载硬件在环(HIL)测试系统

多类型车载控制器适配测试

全面支持各类车载控制器测试需求,可覆盖车身控制器、车灯控制器、车窗控制器、空调控制器等核心部件,精准验证不同控制器的功能逻辑、响应性能与稳定性,确保各类控制器适配整车运行要求。

车载总线与硬线IO测试

完整支持CAN、LIN、车载以太网等主流车载总线测试,验证总线通信的稳定性、数据传输完整性与实时性;同时覆盖各种硬线IO测试场景,可对IO信号的采集、输出控制、电平转换等功能进行全面验证,确保硬件接口性能达标。

自定义功能与时序测试

支持根据测试需求自定义各类功能逻辑与时序参数,搭配可视化设计界面,可直观配置测试流程、触发条件与判断标准,覆盖控制器启停、模式切换、信号交互等各类功能测试场景,操作简单易用,大幅降低测试配置门槛

多场景仿真测试

支持各类仿真测试需求,可模拟整车运行工况、环境干扰、部件协同等多场景仿真;同时支持导入MATLAB/Simulink、AMESim等多种格式的仿真模型,快速复现真实应用场景,精准验证控制器在不同仿真环境下的功能与性能表现。

故障注入测试

支持对车载控制器进行各类故障注入测试,可模拟通信中断、传感器信号异常、电源波动、IO端口故障等常见故障场景,验证控制器对故障的识别、诊断、报警及安全响应能力,确保控制器在故障工况下仍能保障整车运行安全。

灵活扩展与多型号适配测试

具备强大的灵活扩展能力,支持通过硬件模块增减、软件功能升级等方式,快速适配不同测试需求;同时适配能力强,可兼容不同品牌、不同型号的车载控制器,无需重复搭建测试环境,有效覆盖多型号产品测试场景,提升测试效率。

半实物仿真测试系统

跨场景半实物仿真测试

融合虚拟仿真模型与实物设备,提供专属信号、协议交互及功能验证,可按需搭建自动化测试环境,满足不同场景下系统高实时性、高可靠性的验证需求。

支持各种总线和IO接口

涵盖RS422、1553B、AFDX、FC、SpaceWire、NMEA 2000 等专属总线,支持各种离散量和数字量接口,可无缝对接雷达、惯导、导航仪等设备,适配多场景测试接口需求。

多场景测试时序设计

以图形化界面设计专属测试时序,支持灵活扩展时序节点、动态调整总线数据交互逻辑,操作便捷,有效提升不同测试场景下的时序设计效率。

多场景自定义协议验证

为自定义协议测试赋能,适配 CRC-16/CCITT、CRC-32 等专属校验算法,自动化检查协议字段值,快速定位数据丢包、字段错误等漏洞,满足严苛验证要求。

多维度故障注入

覆盖信号短路、总线位错误、数据畸变等故障场景,可模拟低气压、真空、颠簸等极端工况,验证系统故障容错与自愈能力,适配多场景可靠性测试。

多场景仿真模型协同

支持自定义专用仿真算法,可导入 Simulink、SCADE、STK 等主流模型,实现 “建模 - 仿真 - 测试” 多平台协同,为不同场景系统设计验证提效。

通用嵌入式产品测试系统

支持各类嵌入式产品测试

覆盖MCU、DSP、SoC、FPGA等嵌入式芯片开发的产品,支持硬件功能、性能、稳定性及兼容性测试,适配不同架构嵌入式系统验证需求。

支持各种接口及信号测试

覆盖UART/IIC/SPI/CAN/CANFD/以太网/IO/AD/DA/PWM/WiFi/Bluetooth等接口,支持示波器、信号发生器等仪器联动,实现信号采集与分析一体化。

支持自定义测试时序

图形化界面设计各种测试时序,支持变量联动实现接口数据闭环控制,可配置多接口联合测试流程,集成信号短路、数据错误等故障注入功能。。

支持自定义通信协议

可视化配置协议帧结构,支持自定义编解码规则,适配CRC、奇偶校验等算法,实现物理量(如电压)与帧数据的自动换算,快速定位协议漏洞。

支持自定义仿真算法

支持对与被测产品交互的各部分(模块、子系统、外部系统等)进行各种层面的仿真,支持自定义仿真算法,支持导入现有仿真模型(Simulink)。

自动化测试平台

支持全自动化测试,支持表格和曲线显示各种测试数据,支持自动化生成 Word/Excel 测试报表,支持单机部署、多人共享部署和分布式部署。

芯片功能自动化测试系统

全引脚电气特性测试

覆盖芯片所有输入输出引脚,精准测量电压、电流、电阻等参数。支持过压、过流保护测试,全面验证引脚电气性能边界。

逻辑功能全面验证

支持组合逻辑与时序逻辑测试,可生成海量测试向量,覆盖所有功能状态。自动比对实际输出与预期结果,精准定位功能缺陷。

时序参数精确测量

高精度捕获芯片setup/hold时间、传输延迟等关键时序参数。支持不同频率下的时序特性分析,确保芯片在全工况下的时序可靠性。

功耗特性分析

实时监测芯片在不同工作模式下的静态电流与动态功耗。生成功耗曲线与热点分析报告,为低功耗设计优化提供数据支撑。

多场景故障注入测试

支持引脚级故障(短路、开路、噪声注入)和功能级故障(翻转、停滞、延迟)模拟。验证芯片容错机制与异常处理能力。

支持多规格芯片兼容测试

适配DIP、SOP、QFP、BGA等多种封装形式。通过可配置测试夹具与参数模板,快速切换不同型号芯片的测试流程,提升测试灵活性。

定制各类自动化测试设备、台架、工装

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